001 avmolOPAC2008-3800
080 $a621.315.5/.6:620.17:548:543.42:661.6:661.8
100 $aPawłowski, Michał.
245 $aObrazowanie struktury defektowej materiałów półizolujących z wykorzystaniem niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej $cMichał Pawłowski
260 $aWarszawa $bWojskowa Akademia Techniczna $c2007
300 $a167 s. $bil. (gł. kolor.) $c24 cm
500 $aBibliogr. s. 153-167
650 $aArsenek galu $xbadanie $xmetody
650 $aDefekty struktury krystalicznej $xbadanie $xmetody
650 $aDiagnostyka obrazowa techniczna
650 $aFosforek indu $xbadanie $xmetody
650 $aPółprzewodniki $xbadanie $xmetody
650 $aSpektroskopia fotoelektryczna $xstosowanie
920 $a978-83-89399-66-3